Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits. Springer.
Citace podle Chicago (17th ed.)Bushnell, Michael L., a Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston: Springer, 2000.
Citace podle MLA (8th ed.)Bushnell, Michael L., a Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Springer, 2000.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..