Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits. Springer.
Chicago-referens (17:e uppl.)Bushnell, Michael L., och Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston: Springer, 2000.
MLA-referens (8:e uppl.)Bushnell, Michael L., och Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Springer, 2000.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.