Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits. Springer.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Bushnell, Michael L., và Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston: Springer, 2000.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)Bushnell, Michael L., và Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-signal VLSI Circuits. Springer, 2000.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.