Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor)
Altres autors: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Format: Llibre
Idioma:English
Publicat: Boston Springer 2000.
Col·lecció:Frontiers in electronic testing; 17
Matèries:
Accés en línia:Click here to view the full text content
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Descripció
Descripció física:xviii, 690 pages illustrations 26 cm.
Bibliografia:Bibliography : pages [631]-670
ISBN:0792379918 (hc)