Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Author)
מחברים אחרים: Agrawal, Vishwani D., 1943-
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: Boston Springer 2000.
סדרה:Frontiers in electronic testing; 17
נושאים:
גישה מקוונת:Click here to view the full text content
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תיאור פיזי:xviii, 690 pages illustrations 26 cm.
ביבליוגרפיה:Bibliography : pages [631]-670
ISBN:0792379918 (hc)