Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Автор)
Другие авторы: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Формат:
Язык:English
Опубликовано: Boston Springer 2000.
Серии:Frontiers in electronic testing; 17
Предметы:
Online-ссылка:Click here to view the full text content
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Объем:xviii, 690 pages illustrations 26 cm.
Библиография:Bibliography : pages [631]-670
ISBN:0792379918 (hc)