Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (مؤلف) |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Agrawal, Vishwani D., 1943- |
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Boston
Springer
2000.
|
سلاسل: | Frontiers in electronic testing;
17 |
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | Click here to view the full text content |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
بواسطة: Bushnell, Michael L.
منشور في: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
بواسطة: Bushnell, Michael L.
منشور في: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
بواسطة: Bushnell, Michael L.
منشور في: (2000) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
بواسطة: Hurst, Stanley L.
منشور في: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
بواسطة: Hurst, Stanley L.