Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Agrawal, Vishwani D., 1943-
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston Springer 2000.
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing; 17
Schlagworte:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Digital integrated circuits > Testing. Mixed signal circuits > Testing. Semiconductor storage devices > Testing.
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