Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Guardado en:
Autor principal: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor) |
---|---|
Otros Autores: | Agrawal, Vishwani D., 1943- |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Boston
Springer
2000.
|
Colección: | Frontiers in electronic testing;
17 |
Materias: | |
Acceso en línea: | Click here to view the full text content |
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