Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Show other versions (3)

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Author)
מחברים אחרים:	Agrawal, Vishwani D., 1943-
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Boston Springer 2000.
סדרה:	Frontiers in electronic testing; 17
נושאים:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Digital integrated circuits > Testing. Mixed signal circuits > Testing. Semiconductor storage devices > Testing.
גישה מקוונת:	Click here to view the full text content
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
מאת: Bushnell, Michael L.
יצא לאור: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
מאת: Bushnell, Michael L.
יצא לאור: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
מאת: Bushnell, Michael L.
יצא לאור: (2000)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
מאת: Hurst, Stanley L.
יצא לאור: (1998)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
מאת: Hurst, Stanley L.

Power-constrained testing of VLSI circuits /
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
יצא לאור: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
יצא לאור: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
יצא לאור: (2006)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
יצא לאור: (2006)

Iddq testing for CMOS VLSI /
מאת: Rajsuman, Rochit
יצא לאור: (1995)

Digital circuit testing and testability /
מאת: Lala, Parag K.
יצא לאור: (1997)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
יצא לאור: (1989)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
יצא לאור: (1989)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Nanometer technology designs : high-quality delay tests /
מאת: Tehranipoor, Mohammad
יצא לאור: (2008)

VLSI-design of non-volatile memories /
מאת: Campardo, Giovanni
יצא לאור: (2005)

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
מאת: Lee, Mike Tien - Chien
יצא לאור: (1997)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)

High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
מאת: Lee, Mike Tien-Chien
יצא לאור: (1997)

Introduction to VLSI testing /
מאת: Feugate, Robert J.
יצא לאור: (1988)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
מאת: Burns, Mark
יצא לאור: (2001)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
מאת: Burns, Mark
יצא לאור: (2001)

Digital circuit testing and testability
מאת: Lala, Parag K.
יצא לאור: (1997)

Digital circuit testing and testability
מאת: Lala, Parag K.
יצא לאור: (1997)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
מאת: Parhi, Keshab K.
יצא לאור: (1999)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
מאת: Parhi, Keshab K, 1959-
יצא לאור: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
מאת: Parhi
יצא לאור: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
מאת: Parhi
יצא לאור: (1999)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
מאת: Wong, Yan Chiew
יצא לאור: (2009)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
מאת: Wong, Yan Chiew
יצא לאור: (2009)

The design and analysis of VLSI circuits /
מאת: Glasser, Lance A.
יצא לאור: (1985)