Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Հեղինակ) |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | Agrawal, Vishwani D., 1943- |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
Boston
Springer
2000.
|
Շարք: | Frontiers in electronic testing;
17 |
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | Click here to view the full text content |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
: Bushnell, Michael L.
Հրապարակվել է: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
: Bushnell, Michael L.
Հրապարակվել է: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
: Bushnell, Michael L.
Հրապարակվել է: (2000) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L.
Հրապարակվել է: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L.