Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

অন্যান্য সংস্করণ প্রদর্শন করুন (3)
সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Author)
অন্যান্য লেখক: Agrawal, Vishwani D., 1943-
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Boston Springer 2000.
মালা:Frontiers in electronic testing; 17
বিষয়গুলি:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
অনলাইন ব্যবহার করুন:Click here to view the full text content
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
Search Result 1
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
অনুযায়ী Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত 2000
গ্রন্থ
তালিকাভুক্ত করুন
সংরক্ষণ করুন:
Search Result 2
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
অনুযায়ী Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত 2000
গ্রন্থ
তালিকাভুক্ত করুন
সংরক্ষণ করুন:
Search Result 3
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
অনুযায়ী Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত 2000
গ্রন্থ
তালিকাভুক্ত করুন
সংরক্ষণ করুন:
সমস্ত সংস্করণ দেখান (4)

অনুরূপ উপাদানগুলি