Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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Auteur principal: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Auteur)
Autres auteurs: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Format: Livre
Langue:English
Publié: Boston Springer 2000.
Collection:Frontiers in electronic testing; 17
Sujets:
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