Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autore)
Altri autori: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: Boston Springer 2000.
Serie:Frontiers in electronic testing; 17
Soggetti:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
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Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
di Bushnell, Michael L.
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