Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor)
Další autoři: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Boston Springer 2000.
Edice:Frontiers in electronic testing; 17
Témata:
On-line přístup:Click here to view the full text content
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Právě probíhá údržba systému

Právě probíhá údržba knihovního systému.

V současné době nejsou dostupné informace o dostupnosti. Omlouváme se Vám za nepříjemnosti. Neváhejte nás kontaktovat a my se pokusíme zjistit požadované informace jinou cestou:

david@pintaran.my

Internet

Click here to view the full text content