Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Συγγραφέας)
Άλλοι συγγραφείς: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston Springer 2000.
Σειρά:Frontiers in electronic testing; 17
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Click here to view the full text content
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Σύστημα σε κατάσταση συντήρησης

Ο κατάλογος της βιβλιοθήκης βρίσκεται σε κατάσταση συντήρησης.

Η κατάσταση των τεκμηρίων δεν είναι διαθέσιμη αυτή τη στιγμή. Ζητούμε συγγνώμη για το πρόβλημα. Επικοινωνήστε μαζί μας αν χρειάζεστε βοήθεια:

david@pintaran.my

Διαδίκτυο

Click here to view the full text content