Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor)
Otros Autores: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Boston Springer 2000.
Colección:Frontiers in electronic testing; 17
Materias:
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