Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Author)
Outros Autores: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: Boston Springer 2000.
Colecção:Frontiers in electronic testing; 17
Assuntos:
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