Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Автор)
Другие авторы: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Формат:
Язык:English
Опубликовано: Boston Springer 2000.
Серии:Frontiers in electronic testing; 17
Предметы:
Online-ссылка:Click here to view the full text content
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Система на техническом обслуживании

Система поддержки библиотеки сейчас на техническом обслуживаении.

Задолженности и информация по доступности документа сейчас недоступна. Наши извенения за неудобства и обратитесь за советом:

david@pintaran.my

Internet

Click here to view the full text content