Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Diğer sürümleri göster (3)
Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Yazar)
Diğer Yazarlar: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Boston Springer 2000.
Seri Bilgileri:Frontiers in electronic testing; 17
Konular:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Online Erişim:Click here to view the full text content
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

Sistem Bakımda

Kütüphane sistemimiz bakımda.

Kopya kayıtları ve kayıların durum bilgileri şu anda erişilebilir değil. Bunun için özür dileriz, daha fazla yardım için bizimle irtibata geçebilirsiniz:

david@pintaran.my

Internet

Click here to view the full text content

Benzer Materyaller