Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Автор)
Інші автори: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Формат: Книга
Мова:English
Опубліковано: Boston Springer 2000.
Серія:Frontiers in electronic testing; 17
Предмети:
Онлайн доступ:Click here to view the full text content
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Технічні роботи в бібліотечній системі

Наразі у нашій бібліотечній системі ведуться технічні роботи.

Замовлення та інформація про доступність примірників наразі недоступна. Приносимо наші вибачення. Зверніться до Бібліотеки за допомогою:

david@pintaran.my

Інтернет

Click here to view the full text content