Scanning Auger electron microscopy /

Scanning Auger electron microscopy /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät:	Prutton, M., El Gomati, Mohamed M.
Aineistotyyppi:	Kirja
Kieli:	English
Julkaistu:	Hoboken, NJ John Wiley & Sons c2006.
Aiheet:	Scanning Auger electron microscopy.
Linkit:	Click here to view the full text content
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Samankaltaisia teoksia

Scanning electrochemical microscopy /
Julkaistu: (2001)

Roadmap of scanning probe microscopy /
Julkaistu: (2007)

Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis/
Julkaistu: (2011)

Scanning electrochemical microscopy /
Julkaistu: (2012)

Scanning electrochemical microscopy /
Julkaistu: (2012)

Scanning probe microscopy /

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Julkaistu: (2007)

Scanning electrochemical microscopy
Julkaistu: (2001)

Scanning electrochemical microscopy
Julkaistu: (2001)

Roadmap of scanning probe microscopy /
Julkaistu: (2007)

Scanning probe microscopy : the lab on a tip /
Tekijä: Meyer, Ernst
Julkaistu: (2004)

Scanning electrochemical microscopy
Julkaistu: (2012)

Scanning electrochemical microscopy
Julkaistu: (2012)

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
Tekijä: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-
Julkaistu: (2006)

New horizons of applied scanning electron microscopy
Tekijä: Shimizu, Kenichi
Julkaistu: (2010)

New horizons of applied scanning electron microscopy
Tekijä: Shimizu, Kenichi
Julkaistu: (2010)

Scanning probe microscopies beyond imaging : manipulation of molecules and nanostructures /

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Julkaistu: (2007)

Scanning microscopy for nanotechnology techniques and applications
Julkaistu: (2007)

Scanning microscopy for nanotechnology techniques and applications
Julkaistu: (2007)

Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents
Tekijä: Foster, A.
Julkaistu: (2006)

Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents
Tekijä: Foster, A.
Julkaistu: (2006)

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Julkaistu: (2010)

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Julkaistu: (2010)

Scanning electron microscopy /
Julkaistu: (2015)

Analisa kuantitatif dengan menggunakan scanning elektron mikroskop (SEM) /
Tekijä: Mohamad Lothfi Bin Yaakob
Julkaistu: (1996)

Quantitative data processing in scanning probe microscopy SPM applications for nanometrology
Tekijä: Klapetek, Petr
Julkaistu: (2013)

Quantitative data processing in scanning probe microscopy SPM applications for nanometrology
Tekijä: Klapetek, Petr
Julkaistu: (2013)

Scanning probe microscopes : applications in science and technology /
Tekijä: Birdi, K. S.
Julkaistu: (2003)

Scanning probe microscopes : applications in science and technology /
Tekijä: Birdi, K. S., 1934-
Julkaistu: (2003)

Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Julkaistu: (2012)

Analisa kuantitatif dengan menggunakan scanning elektron mikroskop (SEM) /
Tekijä: Mohamad Lothfi Bin Yaakob
Julkaistu: (1996)

Hybridizing surface probe microscopies : toward a full description of the meso- and nanoworlds /
Tekijä: Moreno-Flores, Susan
Julkaistu: (2013)

Scanning tunneling microscopy in surface science, nanoscience and catalysis
Julkaistu: (2010)

Scanning tunneling microscopy in surface science, nanoscience and catalysis
Julkaistu: (2010)

Scanning probe microscopes applications in science and technology
Tekijä: Birdi, K. S.
Julkaistu: (2003)

Scanning probe microscopes applications in science and technology
Tekijä: Birdi, K. S.
Julkaistu: (2003)

Electron microscopy and analysis /
Tekijä: Goodhew, Peter J.
Julkaistu: (2001)

Electron microscopy and analysis /
Tekijä: Goodhew, Peter J.
Julkaistu: (2001)

Electron microscopy and analysis /
Tekijä: Goodhew, Peter J.