Handbook of silicon semiconductor metrology /

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Diebold, A. C. (Alain C.)
Format: Book
Language:English
Published: New York Marcel Dekker 2001.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01256cam a2200337 a 4500
001 vtls000026355
003 MY-ArUMP
005 20210731230358.0
008 120302s2001 nyua f b 001 0 eng
020 |a 0824705068  |c RM855.00 
020 |a 9780824705060 
035 |a (OCoLC)ocm46822335 
039 9 |a 201606301407  |b NY  |c 201203021608  |d SMT  |c 201111291555  |d VLOAD  |c 201111291023  |d VLOAD  |y 200606191213  |z NUI  |e NHM 
040 |a MYPMP  |b eng  |e rda  |c MYPMP 
090 0 0 |a TK7871.85  |b H236 2001 
245 0 0 |a Handbook of silicon semiconductor metrology /  |c edited by Alain C. Diebold. 
264 1 |a New York  |b Marcel Dekker  |c 2001. 
300 |a xvi, 874 pages:  |b illustrations;  |c 26 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent  
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier 
541 |a BAJUNAID SDN. BHD.  |d 08-11-06 
591 |a PER.2/O/06/545(a) 
594 |a 31-01-07 
650 0 |a Semiconductors  |x Measurement. 
650 0 |a Semiconductors  |x Inspection. 
700 1 |a Diebold, A. C.  |q (Alain C.) 
942 |2 lcc  |c BK-OS 
949 |a VIRTUAITEM  |d 10000  |f 1  |x 1  |6 024879 
999 |c 75666  |d 75666 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |6 TK787185 H236 02001  |7 0  |9 63568  |a PTSFP  |b PTSFP  |c 1  |d 2021-07-31  |o TK7871.85 H236 2001  |p 024879  |r 2021-07-31  |t 1  |w 2021-07-31  |y BK-OS