Hurst, S. L. VLSI testing: Digital and mixed analogue/digital techniques. The Institution of Electrical Engineers.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Hurst, Stanley L. VLSI Testing: Digital and Mixed Analogue/digital Techniques. London: The Institution of Electrical Engineers.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Hurst, Stanley L. VLSI Testing: Digital and Mixed Analogue/digital Techniques. The Institution of Electrical Engineers.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.