Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the Micro- and nanometer range /
Tallennettuna:
| Muut tekijät: | , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Weinheim
Wiley-VCH
2005.
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!