Skip to content
VuFind
החשבון שלך
יציאה מהחשבון
כניסה לחשבון
ערכת נושא
bootprint3
bootstrap3
sandal
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
חיפוש
Nanoscale calibration standard...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
הוספה למועדפים
Permanent link
Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the Micro- and nanometer range /
Show other versions (2)
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:
Wilkening, Gunter
,
Koenders, Ludger
פורמט:
ספר
שפה:
English
יצא לאור:
Weinheim
Wiley-VCH
2005.
נושאים:
Nanostructured materials
>
Measurement
>
Congresses.
Microstructure
>
Measurement
>
Congresses.
Scientific apparatus and instruments
>
Calibration
>
Congresses.
Stereology
>
Congresses.
תגים:
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
מלאי ספרים
תיאור
הערות
Other Versions (2)
פריטים דומים
תצוגת צוות
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!
התגובה שלך
צריך להיות מחובר מראש
פריטים דומים
Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range /
יצא לאור: (2005)
Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range /
יצא לאור: (2005)
Precision instrumentation and measurement selected, peer reviewed papers from the International Conference on Precision Instrumentation and Measurement 2010 (CPIM2010) and its satelite event, the International Symposium on Mass Measurement Device (MMD2010), held in our beautiful and historical city of Kiryu
יצא לאור: (2010)
Precision instrumentation and measurement selected, peer reviewed papers from the International Conference on Precision Instrumentation and Measurement 2010 (CPIM2010) and its satelite event, the International Symposium on Mass Measurement Device (MMD2010), held in our beautiful and historical city of Kiryu
יצא לאור: (2010)
Deformation mechanisms, microstructure evolution and mechanical properties of nanoscale materials : symposium held November 29-December 3, Boston, Massachusetts, U.S.A /
יצא לאור: (2011)