Accelerated stress testing handbook /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Chan, H. Anthony (Author)
Other Authors: Englert, Paul J.
Format: Book
Language:English
Published: NEW YORK JW 2001
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01241nam a2200325Ia 4500
001 vtls000002650
003 MY-ArUMP
005 20210731231453.0
008 120302s2001 xx 000 0 eng d
020 |a 0780360257  |c RM441.56 
035 |a (OCoLC)ocn761976214 
039 9 |a 201203021610  |b SMT  |c 201111251708  |d VLOAD  |c 201111161236  |d VLOAD  |c 200803150230  |d VLOAD  |y 200406181501  |z VLOAD  |e SS 
040 |a MYPMP  |b eng  |e rda  |c MYPMP 
090 0 0 |a TK7870.23 A169 2001 
100 1 |a Chan, H. Anthony,  |e author 
245 1 0 |a Accelerated stress testing handbook /  |c by H Anthony Chan and Paul J. Englert 
264 1 |a NEW YORK  |b JW  |c 2001 
300 |a 372 pages:  |b illustrations;  |c 26 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier 
541 |a YUHA 
650 0 |a Electronic apparatus and appliances  |x Reliability 
650 0 |a Electronic apparatus and appliances  |x Testing 
650 0 |a Environmental testing 
700 1 |a Englert, Paul J. 
942 |2 lcc  |c BK-OS 
949 |a VIRTUAITEM  |d 10000  |f 1  |x 1  |6 003659 
999 |c 83493  |d 83493 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |6 TK787023 A169 02001  |7 0  |9 73694  |a FSGM  |b FSGM  |c 1  |d 2021-07-31  |l 0  |o TK7870.23 A169 2001  |p 003659  |r 2021-07-31  |t 1  |w 2021-07-31  |y BK-OS