Microelectronic failure analysis : desk reference /

Microelectronic failure analysis : desk reference /

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Détails bibliographiques
Autres auteurs: Ross, Richard J., Boit, Christian, Staab, Donald
Format: Livre
Langue:English
Publié: Materials Park ASM International c1999.
Édition:4th ed.
Sujets:
Electronics > Materials > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Microelectronics > Materials > Defects > Handbooks, manuals, etc.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Semiconductors > Defects > Handbooks, manuals, etc.
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