Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM).
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.