Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM).
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումSafinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
MLA (8րդ խմբ.) ՄեջբերումSafinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.