Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM).
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)Safinah Nor Bt Jusoh. Surface and Grain Size Characterization of Gallium and Tantalum Doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Film Using Atomic Force Microscope (AFM).
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.