Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Saved in:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Sprog: | English |
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Emne beskrivelse: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| Fysisk beskrivelse: | xi, 63pages illustrations 30cm |