Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Descripció de l’ítem: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| Descripció física: | xi, 63pages illustrations 30cm |