Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Popis jednotky: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| Fyzický popis: | xi, 63pages illustrations 30cm |