Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Sábháilte in:
| Príomhchruthaitheoir: | |
|---|---|
| Formáid: | LEABHAR |
| Teanga: | English |
| Ábhair: | |
| Clibeanna: |
Cuir clib leis
Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!
|
| Cur síos ar an mír: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| Cur síos fisiciúil: | xi, 63pages illustrations 30cm |