Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | English |
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תאור פריט: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| תיאור פיזי: | xi, 63pages illustrations 30cm |