Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | English |
| Teme: | |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
| Opis knjige/članka: | Laporan Projek Tahun Akhir Sidang Akademik 2005/2006 PPK Mikroelektonik |
|---|---|
| Fizični opis: | xi, 63pages illustrations 30cm |