Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Safinah Nor Bt Jusoh (مؤلف) |
---|---|
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
A study on surface roughness and morphology of Gallium Oxide Doped Ba0.5 Sr0.5 Ti03 thin film
بواسطة: Fadrul Hisham Mohd Fauzi -
Structural & electrical characterization of Ba(0.5)S(0.5)Tio3 thin films in effect annealing temperature
بواسطة: Ramadhan Adnan -
Effect of annealing temperature and dopant concertration on the surface layer of indium doped Ba0.5Sr0.5Ti03 thin film
بواسطة: Noor Khairul Anuar Johari -
Penghasilan katod komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2 O3) Samaria Terdop Seri Karbonat (SDCC) /
بواسطة: Mohamed Hakim Ahmad Shah
منشور في: (2015) -
Pengaruh suhu kalsium terhadap serbuk komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2)- samarium terdop seria karbonat (SDCC)/
بواسطة: Shaibool Afandi Ladim
منشور في: (2016)