Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Safinah Nor Bt Jusoh (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
A study on surface roughness and morphology of Gallium Oxide Doped Ba0.5 Sr0.5 Ti03 thin film
ανά: Fadrul Hisham Mohd Fauzi -
Structural & electrical characterization of Ba(0.5)S(0.5)Tio3 thin films in effect annealing temperature
ανά: Ramadhan Adnan -
Effect of annealing temperature and dopant concertration on the surface layer of indium doped Ba0.5Sr0.5Ti03 thin film
ανά: Noor Khairul Anuar Johari -
Penghasilan katod komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2 O3) Samaria Terdop Seri Karbonat (SDCC) /
ανά: Mohamed Hakim Ahmad Shah
Έκδοση: (2015) -
Pengaruh suhu kalsium terhadap serbuk komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2)- samarium terdop seria karbonat (SDCC)/
ανά: Shaibool Afandi Ladim
Έκδοση: (2016)