Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
שמור ב:
מחבר ראשי: | Safinah Nor Bt Jusoh (Author) |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
נושאים: | |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
A study on surface roughness and morphology of Gallium Oxide Doped Ba0.5 Sr0.5 Ti03 thin film
מאת: Fadrul Hisham Mohd Fauzi -
Structural & electrical characterization of Ba(0.5)S(0.5)Tio3 thin films in effect annealing temperature
מאת: Ramadhan Adnan -
Effect of annealing temperature and dopant concertration on the surface layer of indium doped Ba0.5Sr0.5Ti03 thin film
מאת: Noor Khairul Anuar Johari -
Penghasilan katod komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2 O3) Samaria Terdop Seri Karbonat (SDCC) /
מאת: Mohamed Hakim Ahmad Shah
יצא לאור: (2015) -
Pengaruh suhu kalsium terhadap serbuk komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2)- samarium terdop seria karbonat (SDCC)/
מאת: Shaibool Afandi Ladim
יצא לאור: (2016)