Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Safinah Nor Bt Jusoh (Tác giả) |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
A study on surface roughness and morphology of Gallium Oxide Doped Ba0.5 Sr0.5 Ti03 thin film
Bằng: Fadrul Hisham Mohd Fauzi -
Structural & electrical characterization of Ba(0.5)S(0.5)Tio3 thin films in effect annealing temperature
Bằng: Ramadhan Adnan -
Effect of annealing temperature and dopant concertration on the surface layer of indium doped Ba0.5Sr0.5Ti03 thin film
Bằng: Noor Khairul Anuar Johari -
Penghasilan katod komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2 O3) Samaria Terdop Seri Karbonat (SDCC) /
Bằng: Mohamed Hakim Ahmad Shah
Được phát hành: (2015) -
Pengaruh suhu kalsium terhadap serbuk komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2)- samarium terdop seria karbonat (SDCC)/
Bằng: Shaibool Afandi Ladim
Được phát hành: (2016)