Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Safinah Nor Bt Jusoh (Author)
Format: Bog
Sprog:English
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!