Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Sistema fora de servei per tasques de manteniment
El catàleg està fora de servei temporalment per tasques de manteniment
La informació de disponibilitat dels exemplars no està disponible en aquests moments, sentim les inconveniències: