Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Sparad:
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Materialtyp: | Bok |
| Språk: | English |
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
Systemet under underhåll
Bibliotekssystemet är närvarande under underhåll.
Tillgänglighetsinformation kan inte visas för tillfället. Vi beklagar störningen. Kontakta oss om problemet kvarstår: