Random test pattern generator

Random test pattern generator

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Faizulniza Bt Puzi (Tekijä)
Aineistotyyppi:	Kirja
Kieli:	English
Aiheet:	Integrated circuits
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Samankaltaisia teoksia

Digital circuit testing and testability /
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
Tekijä: Wong, Yan Chiew
Julkaistu: (2009)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
Tekijä: Wong, Yan Chiew
Julkaistu: (2009)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
Tekijä: Bahukudumbi, Sudarshan
Julkaistu: (2010)

Introduction to VLSI testing /
Tekijä: Feugate, Robert J.
Julkaistu: (1988)

Exsedia Sdn. Bhd
Tekijä: Faizulniza Bt Puzi

Thermal testing of integrated circuits /
Tekijä: Altet, Josep
Julkaistu: (2002)

Integrated circuit test engineering : modern techniques /
Tekijä: Grout, Ian A.
Julkaistu: (2006)

Integrated circuit test engineering : modern techniques /
Tekijä: Grout, Ian A.
Julkaistu: (2006)

Digital circuit testing and testability
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

Digital circuit testing and testability
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

Testing of digital systems /
Tekijä: Jha, N. K.
Julkaistu: (2003)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L.
Julkaistu: (1998)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L.

VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques
Tekijä: Hurst, Stanley L.
Julkaistu: (1998)

VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques
Tekijä: Hurst, Stanley L.
Julkaistu: (1998)

Power-aware testing and test strategies for low power devices /
Julkaistu: (2010)

Models in hardware testing : lecture notes of the forum in honor of Christian Landrault /
Julkaistu: (2010)

VLSI test principles and architectures design for testability
Julkaistu: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Julkaistu: (2006)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Julkaistu: (1989)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Julkaistu: (1989)

Integrated circuit test engineering : modern techniques /
Tekijä: Grout, Ian A.
Julkaistu: (2006)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Julkaistu: (2006)

Testing of digital systems /
Tekijä: Jha, N. K.
Julkaistu: (2003)

EDA for IC system design, verification, and testing /
Julkaistu: (2006)

EDA for IC system design, verification, and testing /
Julkaistu: (2006)

Generating hardware assertion checkers : for hardware verification, emulation, post-fabrication debugging and on-line monitoring /
Tekijä: Boule, Marc
Julkaistu: (2008)

Power-constrained testing of VLSI circuits /
Tekijä: Nicolici, Nicola
Julkaistu: (2003)

Electronic design automation for IC system design, verification, and testing
Julkaistu: (2017)

Electronic design automation for IC system design, verification, and testing
Julkaistu: (2017)

The integrated circuit design of static random access memory (SRAM) using tanner tools professional software /
Tekijä: Mazalinda Mohd Zakaria
Julkaistu: (2005)

Power-aware testing and test strategies for low power devices
Julkaistu: (2010)

Power-aware testing and test strategies for low power devices
Julkaistu: (2010)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Tekijä: Bushnell, Michael L.
Julkaistu: (2000)

Amplifiers, filters, oscillators and generators /
Tekijä: Tischler, Morris
Julkaistu: (1981)

Principles of semiconductor network testing /
Tekijä: Afshar, Amir
Julkaistu: (1995)

Principles of semiconductor network testing
Tekijä: Afshar, Amir

Integrated circuit design, fabrication and test /
Tekijä: Shepherd, Peter R.
Julkaistu: (1996)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Julkaistu: (2006)