Characterization of electroless under bump metallury for AlSi bond pad composition
The characterization of electroless under bump metallurgy for AlSi bond pad composition in term of surface morphology and surface roughness was investigated. By using the sample given, the gold layer need to be deposited on top on AlSi first. To deposit the gold layer, there are seven set-up proc...
שמור ב:
מחבר ראשי: | Norahmad Barzrul Basaruddin (Author) |
---|---|
פורמט: | אלקטרוני תכנה Database |
שפה: | English |
נושאים: | |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
MIMOS Berhad Technology Park
מאת: Norahmad Barzrul Basaruddin
יצא לאור: (2006) -
Simulation, fabrication and electrical characterization of p-Si capacitor design structure
מאת: Cherly, She Siew Yuet -
Single cyrstal SiC capacitive pressure sensor
מאת: Ruhaizi Mohd Hatta -
Microfluidic poly-si electrodes capacitor (fabricate & testing)
מאת: Esmal Fhadly Abd Malek -
Study the effect of bird's beak on fully recessed locos and poly buffered locos using 2 different pad oxide
מאת: Hafizal Hafiz Sarjoni