Characterization of electroless under bump metallury for AlSi bond pad composition
The characterization of electroless under bump metallurgy for AlSi bond pad composition in term of surface morphology and surface roughness was investigated. By using the sample given, the gold layer need to be deposited on top on AlSi first. To deposit the gold layer, there are seven set-up proc...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Norahmad Barzrul Basaruddin (Tác giả) |
---|---|
Định dạng: | Điện tử Phần mềm Cơ sở dữ liệu |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
MIMOS Berhad Technology Park
Bằng: Norahmad Barzrul Basaruddin
Được phát hành: (2006) -
Simulation, fabrication and electrical characterization of p-Si capacitor design structure
Bằng: Cherly, She Siew Yuet -
Single cyrstal SiC capacitive pressure sensor
Bằng: Ruhaizi Mohd Hatta -
Microfluidic poly-si electrodes capacitor (fabricate & testing)
Bằng: Esmal Fhadly Abd Malek -
Study the effect of bird's beak on fully recessed locos and poly buffered locos using 2 different pad oxide
Bằng: Hafizal Hafiz Sarjoni