Analysis of deposited carbon based on electron beam induced deposition in scanning electron microscopy using secondary ion mass spectrometry
Many experiments on the mechanics of nanostructures require the creation of rigid clamps at specific locations. In this final year project, electron beam induced deposition (EBID) has been used to deposit carbon films that are similar to those that have recently been used for clamping nanostructures...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Elektroniczne Oprogramowanie Baza danych |
| Język: | English |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Z powodu przeglądu technicznego niedostępne
Niestety! Z powodu przeglądu technicznego system jest niedostępny.
Niestety! Status dostępu obecnie nie stoi do dyspozycji - skontaktuj się z biblioteką.