Analysis of deposited carbon based on electron beam induced deposition in scanning electron microscopy using secondary ion mass spectrometry
Many experiments on the mechanics of nanostructures require the creation of rigid clamps at specific locations. In this final year project, electron beam induced deposition (EBID) has been used to deposit carbon films that are similar to those that have recently been used for clamping nanostructures...
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | Điện tử Phần mềm Cơ sở dữ liệu |
| Ngôn ngữ: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Hệ thống đang được bảo trì
Hệ thống quản lý thư viện của chúng tôi hiện đang được bảo trì.
Thông tin về trạng thái tài khoản và mục khả dụng hiện không khả dụng. Vui lòng chấp nhận lời xin lỗi của chúng tôi vì bất kỳ sự bất tiện nào mà điều này có thể gây ra và liên hệ với chúng tôi để được hỗ trợ thêm: