Mohamad Fadzli Ali. Study of the thickness of the silicon dioxide on wafer using dry and wet oxidation method.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Mohamad Fadzli Ali. Study of the Thickness of the Silicon Dioxide on Wafer Using Dry and Wet Oxidation Method.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Mohamad Fadzli Ali. Study of the Thickness of the Silicon Dioxide on Wafer Using Dry and Wet Oxidation Method.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.